СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА №2/2016

ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ 31 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 2 2016 Рис. 2. Универсальные и инновационные особенности Тестера FORMULA ® HF Ultra Реклама кации и приёмочных испытаний микросхем, для выполнения отбрако- вочных, приёмо-сдаточных, периоди- ческих и сертификационных испыта- ний, а также для входного контроля микросхем (см. таблицу). Основные технические характери- стики Тестера определяются следую- щими величинами: ● количество универсальных двуна- правленных каналов – до 1024; ● частота – до 550/1200 МГц; ● память векторов/ошибок – до 128 М/128 М; ● блок аналоговых измерений – 1200 МПс/24 бит. Уровень и состав функциональных, параметрических и метрологических характеристик Тестера, установлен- ный при его разработке, был опреде- лён, исходя из номенклатуры и харак- теристик микросхем, составляющих основу государственной программы импортозамещения (см. таблицу), а также с учётом обеспечения кон- курентоспособности с современным зарубежным оборудованием аналогич- ного назначения. У НИВЕРСАЛЬНОСТЬ И ИННОВАЦИИ Тестер FORMULA ® HF Ultra имеет модульно-магистральную архитекту- ру, реализующую принцип заказно- го конфигурирования оборудования с выбором основных и дополнитель- ных устройств, соответствующих кру- гу решаемых измерительных и испы- тательных задач. Тестер открывает воз- можности для комплексной проверки широкой номенклатуры СБИС (вклю- чая СнК) благодаря следующим инно- вациям (см. рис. 2): 1. Тестер объединяет в своём составе две подсистемы функционального контроля на 1024 канала с частотой до 550 МГц на канал с обеспечением четырёхуровневых сигналов, в том числе дифференциальных в диапа- зоне напряжений –1,5…+13 В неза- висимо по каждому каналу: ● генератор тестовой последователь- ности (ГТП) для тестирования СБИС произвольной логики; ● алгоритмический генератор тестов (АГТ) для контроля быстродейству- ющих ЗУ: FLASH, DRAM, DDR, DDR2/3, SRAM, ROM, PROM и иной регулярной логики. Характеристики подсистем функ- ционального контроля Тестера позво- ляют успешно применять его при тестировании сверхинтегрированных ультравысокочастотных СБИС с чис- лом выводов до 1600…1700, например, ASICs и ПЛИС. Специальный режим одновременно- го использования ГТП и АГТ предназна- чен для тестирования СБИС с архитек- турой СнК, таких как микроконтрол- леры и микропроцессоры, методами функционального и алгоритмическо- го контроля в едином цикле измерений. Направления государственной программы импортозамещения в области СБИС СБИС Описание Цифровые СБИС ASIC, ПЛИС, стандартная жёсткая логика Микропроцессоры и микроконтроллеры Универсальные и сигнальные, одноядерные и многоядерные. Процессорные IP-ядра в составе СнК Микросхемы смешанного сигнала, аналоговые ИМС АЦП и ЦАП. IP-ядра АЦП, ЦАП, аналоговых компонентов в составе СнК. Статические и динамические ЗУ SRAM, FLASH, DRAM, DDR, DDR2/3, ROM, PROM и др. IP-ядра ЗУ в составе СнК «Системы на кристалле», «системы в корпусе» СБИС микропроцессоров и микроконтроллеров, ПЛИС и ASICs, включающие процессорные ядра, блоки памяти, ИС программируемой логики, периферийных устройств, аналоговые компоненты, АЦП и ЦАП. Блок аналоговых измерения для контроля АЦП и ЦАП 1200 Мпс/24 бит Мощные источники для питания высокопотребляющих СБИС: 4,5 В / 20 А; 3,5 В / 50 А Объединение двух подсистем функционального контроля для СнК Технология BIST JTAG JAM PLAYER STAPL Поддержка дифференциальных и четырёхуровневых сигналов Прецизионный генератор опорной частоты 1200 МГц/400 фс 1024 канала 550 МГц 128 М/128 М (–1,5...+13) В Конструкция обеспечивает измерения СБИС в диапазоне температур от –60 до +125 ° С