СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА №2/2016

ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ 32 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 2 2016 2. Метрологически аттестованные характеристики сигналов универ- сальных каналов Тестера определя- ют высокое качество измерений уль- травысокочастотных СБИС и полно- стью соответствуют ультравысокой частоте функционального контроля 550 МГц (см. рис. 3): ● минимальная длительность фрон- та и среза импульса составляет 275 ±150 пс; ● минимальная длительность импуль- са – 750 ±150 пс. Для сохранения формы импульса и требований подключения к проверя- емой микросхеме предусмотрена про- граммируемая независимо по каждому каналу компенсация искажений сигна- ла в тракте приёма/передачи, а также программируемое формирование кру- тизны фронта/среза сигнала в диапа- зоне от 100 до 25% (программируется и выполняется так же поканально-неза- висимо). 3. Канальная электроника Тестера вос- производит четырёхуровневые сиг- налы, в том числе дифференциаль- ные в широком диапазоне напряже- ний от –1,5 до +13 В, независимо по каждому каналу. Это позволяет кон- тролировать микросхемы с 4-уров- невым кодированием данных, например, СБИС обработки видео- сигнала. 4. Тестер обладает высокоточной под- системой измерений электрических статических параметров СБИС, кото- рая включает: ● измерительные источники питания VCC – 32 шт., 0…+6 В; ±250 мкА…±4 А; ● измерительные источники питания VDD – 32 шт., –2…+15 В; ±200 нА… ±400 мА; ● многоканальные измерители PMU – 32 шт., –2…+13 В; ±200 нА…±150 мА; ● поканальные измерители PPMU – 1024 шт., –2…+13 В; ±2 мкА…±50 мА; ● измерительные источники HVDD – 8 шт., –17…+17 В; –500…+500 мА. Применение поканальных изме- рителей PPMU позволяет обеспечить режим «мультисайт» для параллельно- го высокопроизводительного контро- ля микросхем на пластинах и в корпусе. Источники HVDD могут быть исполь- зованы для программирования FLASH и ПЗУ, а также для контроля аналого- вых микросхем, таких как операцион- ные усилители и компараторы. 5. Тестер имеет специальные дополни- тельные ресурсы для питания высо- копотребляющих СБИС : ● мощные источники питания LVDD – 2шт., 4,5 В; 20 А; ● сверхмощный источник питания SPS – 1 шт., 3,5 В; 50 А / 100 А. Источники LVDD и SPS предназна- чены для питания многоядерных микропроцессоров, ПЛИС и иных микросхем с высоким током потреб- ления. 6. Прецизионная подсистема измере- ний динамических параметров СБИС обеспечивает измерение времени задержки распространения сигна- ла, длительности импульса, фронта и среза, а также других временны ′ х характеристик СБИС с точностью, определяемой на основе следующих погрешностей: ● формирование входных перепадов импульса (IEPA) ±150 пс; ● контроль выходных перепадов импульса (OEPA) ±250 пс; ● общая системная временна ′ я погреш- ность (OTA) ±250 пс. Дискретность установки меток вре- мени составляет 11 пс. Подсистема реализована на уни- версальных измерительных каналах Тестера. 7. Технология BIST . Учитывая потреб- ность разработчиков в проведении внутрисхемного контроля СБИС на этапе исследования опытных образ- цов, в Тестере реализована возмож- ность использования технологии BIST. Для этого используется встро- енный в Тестер порт JTAG, который обеспечивает выполнение всех стан- дартных функций, включая заливку конфигурационных файлов в ПЛИС. Дополнительно имеется встроен- ный JAM PLAYER с поддержкой язы- ка STAPL. 8. Блок аналоговых измерений ARP . Для измерений микросхем смешан- ного сигнала (ЦАП и АЦП) Тестер оснащён прецизионным аналого- во-цифровым блоком (1200 МГц / 1200 Мпс / (–10…+10) В), который обеспечивает измерение динами- ческих и статических параметров преобразования быстродействую- щих микросхем АЦП до 14 разря- дов при формировании на их вхо- дах периодических сигналов с часто- той до 260 МГц, а также измерение статических параметров преобразо- вания микросхем низкочастотных ЦАП и АЦП до 16 разрядов. Блок ARP включает следующие функ- циональные устройства (см. рис. 4): ● прецизионный двухканальный ге- нератор тактовых импульсов до 1200 МГц; ● генератор сигналов произвольной формы с высокочастотным и низко- частотным трактами и частотой пре- образования до 1200 Мпс; ● два прецизионных 20/24-разрядных источника опорного напряжения с диапазоном напряжения –10…+10 В. Для обеспечения низких уровней перекрёстных помех все устройства ARP гальванически изолированы. Объединение всех «земель» осущест- вляется в точке объединения анало- говых и цифровых «земель» контро- лируемого объекта (АЦП или ЦАП) в соответствии с техническими тре- бованиями на их применение. Для Рис. 3. Характеристики сигналов универсальных каналов Тестера FORMULA ® HF Ultra на частоте функционального контроля 550 МГц