Современная электроника №6/2020

СОВРЕМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ 26 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 6 2020 на слоя иммерсионного покрытия до- ходит до 0,15 мкм. Образцы гальванических покрытий показаны на рисунке 6. Когда на детали имеется большое количество изолированных поверх- ностей, например при производстве печатных плат, или изделие имеет сложную форму, предпочтительно использовать химический способ нане- сения. В подобных случаях данная тех- нология позволяет значительно повы- сить качество покрытия. Для формирования подслоя под золо- тое покрытие, а также других техноло- гических целей, в том числе на метал- лизацию, выполненную из тугоплавких материалов (молибден, вольфрам) на диэлектрических подложках (керами- ка), используются покрытия из сплавов никель-бор и никель-фосфор. При необходимости на никелевое покрытие возможно нанести слой золота химическим или иммерсион- ным способом, толщина наносимо- го покрытия золотом при этом может гарантированно достигать 2,5…3,0 мкм. Проведённые испытания изделий с таким покрытием показали, что покры- тие сохраняет паяемость и антикорро- зионные свойства. Благодаря организации всех пере- численных процессов на производстве АО«ТЕСТПРИБОР» освоены технологии полного цикла изготовления печатных плат на основе подложек из различных видов спечённой алюмооксидной и алюмонитридной керамики. Высокое качествопечатныхплат гаран- тируется за счёт следующихфакторов: ● изготовление керамических подло- жек для печатных плат происходит в полном соответствии с требования- ми, предъявляемыми к изделию; ● при производстве используются вы- сококачественные трафареты для печати, изготавливаемые из специ- альных материалов с заданными ха- рактеристиками; ● строгий контроль физических пара- метров паст, грамотно подобранные составы, а также режимы нанесения и вжигания металлизации; ● особое внимание уделено проектиро- ванию оборудования и оснастке, ко- торые обеспечивают повторяемость по толщине, характеристикам метал- лизации и покрытия внутри партии, равномерность покрытия на одном изделии настолько, насколько по- зволяют его геометрические харак- теристики; ● качество используемых при покры- тии гальванических растворов и постоянство технологических па- раметров строго контролируются производственной лабораторией и инженерным персоналом; ● уникальные современные составы позволяют наносить как классиче- ские покрытия, так и редко использу- емые при обычной практике, напри- мер золотое покрытие, выполненное химическим способом до толщины более 2 мкм; ● контроль качества 100%изделий про- изводится в несколько этапов помно- гимпараметрампреимущественно не- разрушающими (бесконтактными) методами, что снижает вероятность попадания бракованных изделий к заказчику. Таким образом, на предприя- тии АО «ТЕСТПРИБОР» освоен пол- ный цикл производства керамиче- ских плат и подложек, в том числе изготовление уникальной техноло- гической оснастки и трафаретов. Соответствие всем техническим тре- бованиям заказчика достигается бла- годаря строгому контролю качества выпускаемой продукции на каждом этапе производства. НОВОСТИ МИРА Н ОВЫЕ АНАЛИЗАТОРЫ ЦЕПЕЙ K EYSIGHT T ECHNOLOGIES С ВЫСОКОПРОИЗВОДИТЕЛЬНЫМИ ИСТОЧНИКАМИ СИГНАЛОВ УПРОЩАЮТ И УСКОРЯЮТ ПРОВЕДЕНИЕ СЛОЖНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ Компания Keysight Technologies, Inc. усовер- шенствовала свои производительные анализа- торы цепей PNA и PNA-X для достижения боль- шей гибкости и точности при одновременном ускорении и упрощении требуемых измерений. Анализаторы цепей являются незаменимы- ми контрольно-измерительными приборами при разработке и производстве ВЧ- и СВЧ- оборудования. Их измерительные возможно- сти позволяют исследовать характеристики широкого класса устройств, компонентов и си- стем. Однако измерения характеристик актив- ных устройств, например, коэффициента шума, компрессии усиления и интермодуляционных искажений, могут быть затруднены особенно для современных высокочастотных устройств. Усовершенствованные анализаторы цепей PNA и PNA-X используют встроенные источ- ники сигналов, выполненные по патентован- ной технологии прямого цифрового синтеза (DDS) c низким уровнем гармонических со- ставляющих, что позволяет выполнять точные измерения с малым уровнем фазового шума. Использование источников с низким уров- нем фазового шума позволяет выполнять двухтоновые измерения интермодуляционных искажений с малым значением расстройки ча- стоты между тонами, что ранее было возмож- но только при использовании высокопроизво- дительных аналоговых генераторов сигналов. Новые DDS-источники сигналов повы- шают производительность широкого спек- тра измерительных приложений, включая приложения для измерения модуляцион- ных искажений, скалярных параметров и фа- зы смесителей/преобразователей частоты, а также характеристик I/Q-преобразователей. Предлагая третий ВЧ-источник сигналов до 13,5 ГГц, анализатор PNA-X упрощает схему измерений, заменяя внешний генератор для формирования сигналов гетеродина. Приборы PNA (высокопроизводительный и недорогой анализатор цепей) и PNA-X (уни- версальный и высокоинтегрированный СВЧ- анализатор цепей для выполнения комплекса измерений параметров активных устройств за одно подключение) компании Keysight обеспе- чивают следующие основные преимущества: ● упрощение конфигурации измерительных систем, поскольку анализатор может за- менить стойку с несколькими приборами; ● сокращение времени тестирования бла- годаря комплексу измерений за одно под- ключение измеряемого устройства; ● точное измерение характеристик линейных и нелинейных устройств за счёт использова- ния расширенных методик коррекции систе- матических составляющих погрешностей; ● ускорение анализа поведения компонентов благодаря сенсорному дисплею и интуитив- но понятному интерфейсу пользователя. Пресс-релиз Keysight Technologies