СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА №7/2015

ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ 51 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 7 2015 векторы генерируются «на лету» в ходе тестирования, а не загружаются в память до его проведения. Этот принцип даёт несколько важных преимуществ: ● Низкая цена . Архитектура на специа- лизированной микросхеме, управля- емой микропроцессором, позволяет получить многоканальный (до 2048 выводов) тестер по относительно низкой цене. Это достигается благо- даря устранению дорогих микросхем памяти и связанной с ними управля- ющей логики. ● Размер . 64-канальный тестер микро- схем на архитектуре быстрой памя- ти невозможно разместить в форм- факторе привода CD-ROM. Исполь- зование специализированной микро- схемы позволило создать компакт- ную, а, следовательно, портативную систему поиска неисправностей, что справедливо даже для системы с 2048 каналами. ● Автоматический учёт схемы сое- динений . Для примера: если в тече- ние тестирования обнаружится, что вывод подключён к шине земли, тестовая программа изменит свою структуру. Иными словами, тестовая программа автоматически подстраи- вается под схему соединений микро- схемы. Эта функция неоценима при поиске неисправностей на плате, так при её отсутствии почти невозможно получить надёжные результаты. Неко- торые системы других производите- лей используют архитектуру быстрой памяти и, таким образом, ограниче- ны в своих возможностях при поис- ке неисправностей. Другие – вообще неспособны подстроиться под схему соединений и, проще говоря, являют- ся фактически бесполезными при задаче поиска неисправностей, так как не могут протестировать микро- схему функционально. ● Автоматическое позиционирование зажима . Тестовая программа также может изменять программные номе- ра своих выводов для того, чтобы обе- спечить выбор способа подключения тестового зажима. Он может быть подключён любым способом, даже частично контактируя с другими ком- понентами, при этом без какого-либо влияния на результаты тестирования. Пришло время сформулировать отве- ты на озвученные ранее вопросы заказ- чиков. «Какова скорость тестирования?» Спецификация микросхемы учитыва- ет допуски и отклонения при их изго- товлении. Многие из указанных в ней параметров, естественно, могут выйти за пределы указанных ограничений. Таким образом, микросхемы должны быть протестированы, используя высо- коскоростное оборудование (по цене более полумиллиона фунтов стерлин- гов) для отсева образцов, параметры которых не соответствуют специфи- кации. Оставшиеся микросхемы идут на продажу и затем входят в состав устройств. На момент отгрузки с завода они все исправны и соответствуют сво- им спецификациям. Однако в дальней- шем микросхемы могут быть повреж- дены в процессе использования из-за скачков напряжения, перегрева, пере- грузки по току или статики. Все эти факторы вызывают внезапные отка- зы. Менее 2% всех отказов микросхем на плате приходятся на проблемы, свя- занные со скоростью её работы. Таким образом, дополнительная цена обору- дования, уплаченная за возможность тестирования микросхемы на полной скорости её работы, не выглядит обо- снованной. Приведём пример. Неко- торое оборудование для поиска неис- правностей может работать на скоро- сти до 10 МГц. Если микросхема 74F74 протестирована на частоте 10 МГц, то её работоспособность в реальной схе- ме при тактовой частоте в 120 МГц не гарантируется. Таким образом, повы- шение стоимости оборудования за счёт обеспечения скорости тестирования в 10 МГц необоснованно. Скорость тести- рования продукции компании ABI зна- чительно ниже, но не может быть точ- но специфицирована, так как тестовая программа модифицируется в процес- се тестирования и скорость меняется от микросхемы к микросхеме. Она не зависит от скорости ПК или тактовой частоты тестера. В результате ответ на вопрос может быть сформулиро- ван следующим образом: «Скорость тестирования при поиске неисправ- ностей не имеет существенного зна- чения, поскольку 98% отказов микро- схем от неё не зависит». «Каков объём памяти на вывод?» Архитектура продуктов компании ABI имеет практически неограниченный объём эквивалентной памяти, так как тестовые векторы генерируются «на лету» по ходу работы. Рассмотрим в качестве примера задачу тестиро- вания памяти RAM. При использова- нии тестера на архитектуре быстрой памяти проведение одиночного цик- ла запись/чтение/сравнение может обеспечиваться 25 тестовыми векто- рами. Если объём памяти составля- ет 128K × 8, то весь процесс потребу- ет уже более 13 миллионов тестовых векторов. Эта цифра вытекает из рас- смотренного принципа работы систем на архитектуре быстрой памяти. В рас- сматриваемой архитектуре ABI написа- ние тестовой программы для решения данной задачи может занимать около 30 минут. Поэтому итоговый ответ на заданный вопрос звучит так: «Эффек- тивная память фактически бесконечна, так как тестовые векторы продолжают генерироваться по ходу тестирования». В заключение приведём несколько фактов: ● тестеры компании ABI используют приведённую архитектуру уже более 30 лет; ● функции автоматической компен- сации схемы соединений и автома- тического позиционирования зажи- мов были разработаны компанией ABI в 1984 г.; ● более 98% отказов микросхем воз- никают внезапно, а более 75% отка- зов на плате происходят вследствие обрывов или замыканий, но ни те, ни другие факторы не зависят от скоро- сти работы; ● заявленная архитектура позволя- ет строить гибкие тестовые систе- мы, объединяющие широкий набор инструментов для поиска неисправ- ностей в одном корпусе. © СТА-ПРЕСС