Современная электроника №5/2020

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 73 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 5 2020 Рис. 3. Результат выполнения программы для тестирования в LabVIEW Изначальнопрограмма JFTбыларазрабо- танакомпаниейJTAGTechnologies [1] с воз- можностью создавать тесты на Python. Буквально сразу после релиза появи- лась и версия для работы в LabVIEW. Так как специалисты Etteplan всегда работали с LabVIEW, эта возможность сразу же привлекла внимание инже- неров. В статье [2], размещённой на сайте компании Etteplan, инженер по тести- рованию Янне Кари рассказывает о том, что с JFT он может устанавливать зна- чения на выводах процессоров, а также управлять их внутренними регистра- ми напрямую из LabVIEW. Возмож- на и симуляция интерфейсов, таких как SPI или I 2 C, для управления пери- ферией или сопутствующими подсис- темами. Например, можно написать скрипт, который считывает данные с АЦП или пишет их в ЦАП. Отметим, что происходит это без программи- рования какого-либо встроенного ПО в устройстве. Более того, большин- ство задач по управлению перифери- ей решается именно с использованием регистра периферийного сканиро- вания. Технически – это сдвиг тесто- Мы обеспечиваем тестирование всех видов современной электроники с уникальным уровнем поддержки. Периферийное сканирование – это мы. РАЗРАБОТКА Получайте полностью работоспособные опытные образцы ПРОИЗВОДСТВО Сделайте производственную линию совершенной с технологиями JTAG СЕРВИСНОЕ ОБСЛУЖИВАНИЕ И РЕМОНТ Ремонтируйте цифровые платы даже при отсутствии CAD-данных на них www. jtag .com • www. jtaglive .com • +7 812 602 09 15 • russia@jtag.com лама вых паттернов по последовательному интерфейсу JTAG. В отдельных случа- ях, когда приходится работать с микро- схемами без поддержки периферийно- го сканирования или требуется высокая скорость, в дополнение к JFT задейству- ется средство доступа к ядрам процес- соров CoreCommander. На рисунке 1 приведён пример про- граммы в JFT/Python для тестирования микросхемы температурного датчика (измерения температуры), подклю- чённого к микросхеме с поддерж- кой периферийного сканирования. На рисунке 2 – тестирование того же датчика, только в JFT/LabVIEW. Резуль- тат выполнения программы в LabVIEW показан на рисунке 3. Ещё одно преимущество JFT/LabVIEW, по словам инженера Etteplan, – это универсальность интерфейса поль- зователя. Любая функция для управле- ния компонентом периферии выглядит одинаково вне зависимости от процес- сора или микроконтроллера. В тради- ционных тестовых программах при- меняются команды, которые очень зависят от производителя процессо- ра или исполнения встроенного ПО.