Современная электроника №5/2020

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 72 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 5 2020 Тестирование встраиваемых систем: разработка тестового ПО или JTAG Functional Test? В статье рассказывается о преимуществах интеграции технологии JTAG Functional Test, которую можно использовать в качестве замены встраиваемому ПО для тестирования. Приведён пример крупной финской инжиниринговой компании Etteplan, внедрившей новую технологию тестирования. Алексей Иванов (alexey@jtag.com) , Мик Остин (mick@jtag.com) Тестирование встраиваемой систе- мы, представляющей из себя комби- нацию аппаратной части и программ- ного обеспечения, всегда предполагало разработку определённого встраивае- мого ПО. При этом специальная вер- сия ПО должна быть предварительно загружена в устройство до проведе- ния тестирования. На создание этой части программы нередко тратятся значительные трудовые и временны ′ е ресурсы. Исправление недочётов и добавление новых возможностей к уже созданному тестовому ПО может осуществить в большинстве организа- ций только один человек – програм- мист, который делал начальную работу. В крупной финской инжиниринго- вой компании Etteplan, присутствую- щей во многих странах Европы и Азии, внедрили новую технологию тестиро- вания, после чего создание дополни- тельных тестовых версий аппаратно- го ПО стало ненужным. Технология, базирующаяся на совместном при- менении средств JTAG Functional Test (JFT) от JTAG Technologies и LabVIEW от National Instruments, используется в компании уже более двух лет. Однако с тестированием может справиться и первый компонент самостоятельно: JFT работает автономно с помощью Python и будучи интегрированным в LabVIEW, CVI, .NET и VB. В Etteplan инженеры привыкли работать с LabVIEW, поэ- тому, освоив версию на Python, сразу перешли на JFT для LabVIEW. Периферийноесканированиесобран- ных цифровых плат с помощью JTAG – это довольно распространённый в мире метод электроконтроля. Это и отдельная функция цифровых микро- схем, используемых в качестве управ- ляющих устройств, таких как процес- соры, ПЛИС и микроконтроллеры. Вся остальная так называемая пери- ферия обычно подключена своими вводами/выводами к центральным микросхемам. С помощью архитек- туры периферийного сканирования по стандарту IEEE 1149.1 на выво- дах микросхемы, поддерживающей его, можно выставлять необходимые тестовые паттерны в параллельном режиме. Тестовые паттерны пойдут на такие кластеры, как память, датчики, интерфейсные устройства или другие микросхемы с периферийным скани- рованием. Откликитакжеможносчиты- ватьисравниватьстаблицамиожидания. С JFT этот процесс становится более гибким: инженер может выбирать отдельные выводы микросхем и симу- лировать на них протоколы с помощью конструкций на языках программи- рования, а также на базе уже готовых функций. Если дополнительно с JFT использовать программный инстру- мент CoreCommander, то, помимо управления регистром периферийного сканирования, пользователь получит доступ ко внутренним регистрам про- цессорного ядра, управляя, например, встроенными АЦП, ЦАП, PHY или UART. Рис. 2. Пример программы для тестирования температурного датчика в JFT / LabVIEW Рис. 1. Пример программы для тестирования микросхемы температурного датчика в программе JTAG Functional Test на базе Python