Современная электроника №9/2021

СОВРЕМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ 9 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 9 2021 Рис. 2. Фрагмент проекта тестирования изделия в программе JTAG ProVision со всем разнообразием созданных тестов периферийного сканирования Рис. 3. Тестирование платы Sofia с одновременным подключением к трём JTAG-портам линии дифференциальных пар, а также проверять межсоединения, проходящие через конденсаторы, диагностируя при этом дефекты монтажа. Многие такие цепи в итоге на наших платах выходят на оптические разъёмы. Для создания «заво- рота» на разъёме мыиспользуемэлектри- ческий «loopback» в конструктиве опти- ческих сменных модулей (см. рис. 1). Периферийное сканирование неразрывно связано с тестопригодной разработкой (Design for Testability – DFT). Расскажите, пришлось ли вам изменять схему или топологию плат для соответствия правилам DFT? Какие проблемы мешали внедрению и были ли они? На ряде плат мы стали выводить JTAG от всех микросхем, поддерживающих тестирование. Также мы разработа- ли внутренние правила по разработке устройства с поддержкой JTAG тести- рования. Эти правила помогают полу- чить максимальное тестовое покрытие. Расскажите, каков типичный спектр тестов и, возможно, операций программирования, которые выполняет станция JTAG- тестирования для ваших плат? Обязательно ли периферийное сканирование для каждого выпускаемого устройства? Кроме стандартных тестов про- верки ID-кода компонентов и тестов межсоединений мы проверяем пери- ферию компонентов с поддержкой JTAG, считывая идентификаторы каж- дого из компонентов, до которых мы можем дотянуться с помощью перифе- рийного сканирования. У компонен- тов, в которых отсутствует регистр с ID-кодом, мы считываем другие пара- метры (регистры состояний или дру- гие специфичные для того или ино- го компонента). Например, если мы говорим о микросхеме датчика тем- пературы, то мы считываем регистры, отвечающие за температуру, и прове- ряем параметр на валидность. Спектр тестов можно посмотреть, открыв про- ект для одной из плат в JTAG ProVision (см. рис. 2). Можете вспомнить какие-то интересные дефекты, которые были обнаружены станцией периферийного сканирования? Одним из самых занятных был дефект микросхемы, отключающей питание в случае перегрева ПЛИС. Микросхема имеет корпус SOIC-8, и система АОИ «не нашла» проблем с ней, но с неё при этом не удавалось считы- вать температуру. Выяснилось, что это брак. Приходилось ли создавать какую-то оснастку для возможности применения JTAG? Да, в платы закладывается возмож- ность проведения JTAG-тестов, а для подключения используется разрабо- танный нами специализированный адаптер. Адаптер можно увидеть на фото на рис. 1 и 3. Можете в целом рассказать, какие проблемы в работе организации удалось решить с внедрением технологии периферийного сканирования? Есть ли какие-то общие показатели работы, которые улучшились? Мы сократили время на поиск про- блем в плате. Также минимизирова- ли рабочее время на ненужную сбор- ку и разборку производимого изделия (снятие радиаторов, снятие крышки с платы). На 10% повысили скорость выпуска партии. Таким образом, сокра- тилось время, которое раньше трати- ли на возвраты продукции с выходного контроля на линию входного контроля. Какие ещё тестовые методы вы используете у себя, помимо периферийного сканирования? Планируется ли внедрение других типов тестеров или расширение применения JTAG-систем? У нас много идей. В ближайшее вре- мя планируем расширять JTAG-тесты для многих изделий и внедрять ICT (внутрисхемный тест) для простых плат. Литература 1. Официальный сайт JTAG Techonologies. [Электронный ресурс] // URL: www.jtag. com/ru. 2. Официальный сайт компании «T8». [Элек- тронныйресурс] // URL: www.t8.ru. Смотрите о производстве сетевого оборудования T8 для Ростелекома