Современная электроника №9/2021

WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 9 2021 На правах рекламы РЫНОК 4 Новости российского рынка СОБЫТИЯ ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ К ОМПАНИЯ INWAVE ВЫПУСТИЛА НОВЫЙ ЦИФРОВОЙ ЗАПОМИНАЮЩИЙ ОСЦИЛЛОГРАФ MWO-4000 Компания INWAVE, ведущий россий- ский разработчик прецизионного кон- трольно-измерительного оборудования, выпустила новый цифровой запоминаю- щий осциллограф MWO-4000 с функцией анализатора спектра реального времени. Осциллограф был презентован на выстав- ке «ExpoElectronica-2021». Основные преимущества цифрового ос- циллографа MWO-4000: ● полоса пропускания 1,5 ГГц; ● частота дискретизации 4 ГГц; ● разрядность 12 бит; ● максимальная глубина записи 2 млрд от- счётов (4 Гбайт); ● 6 классов параметризуемых триггеров; ● 18 типов курсорных и автоматических из- мерений; ● 22 типа математических функций с воз- можностью одновременного отображения до 32 графиков функций; ● режим поиска событий; ● опция анализатора спектра от 8 кГц до 8 ГГц, полоса разрешения (RBW) от 0,1 Гц; ● скорость сканирования до 44 ГГц/с; ● опция анализа спектра реального вре- мени с мгновенной полосой обзора 800 МГц; ● 15,1 ″ графический сенсорный мультитач- дисплей для подробного и удобного ана- лиза сигналов; ● режим регулируемого послесвечения; ● опция встроенного частотомера. www.inwave.ru +7 (495) 137-53-35 К ОНФЕРЕНЦИЯ ПОЛЬЗОВАТЕЛЕЙ СИСТЕМ ПЕРИФЕРИЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ВНУТРИСХЕМНОГО ТЕСТА : НОВЫЙ УРОВЕНЬ Компания «Остек-Электро» совместно с российским представительством JTAG Technologies провели объединённую Все- российскую конференцию пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies и систем внутрисхемного те- стирования SPEA. Событие состоялось 20 и 21 сентября 2021 года в пригороде Санкт- Петербурга Петергофе. Это продолжение уже ставшей традиционной пользователь- ской конференции JTAG Technologies, в этот раз было принято решение о объединении двух методологий электроконтроля, которые, по сути, дополняют друг друга. Такой фор- мат действительно оказался очень продук- тивным, ведь периферийное сканирование и внутрисхемный тест составляют основы структурного производственного тестирова- ния и в комбинации почти всегда позволяют получить максимальное тестовое покрытие. Конференция собрала порядка 70 участ- ников из разных городов: от Минска до Том- ска. Буквально каждый доклад вызывал ин- терес и оживлённые дискуссии. Следует отметить, что бо ′ льшую часть докладов со- ставляли презентации инженеров предприя- тий, которых было 14: это реальные случаи из практики тестирования электроники. Ещё 6 докладов провели представители JTAG Technologies и «Остек-Электро». На конференции поднимались вопросы стратегии тестопригодного проектирования на предприятиях, интеграции различных тестовых методик в единых стендах, поддержки стандар- тов IEEE 1149.1 и IEEE 1149.6 импортной и от- ечественной компонентной базой, рассказы- валось об опыте входного контроля сложных ПЛИС с использованием станций периферий- ного сканирования. Отдельно следует упомя- нуть про возможности интегрированного ком- плекса «Эльбрус-Тест», который предназначен для тестирования плат на базе процессоров Эльбрус, и про опыт интеграции периферийно- го сканирования в программное обеспечение Robster от компании «Третий Пин». Ознакомиться с более подробным спи- ском тем докладов и запросить презентации можно в телеграм-канале JTAG Technologies по ссылке ниже. https://t.me/jtagtechRU На YouTube-канале «Современной элек- троники» вы можете посмотреть интервью с генеральным директором «Остек-Электро» Евгением Мордковичем и с генеральным директором компании «Третий Пин» Иваном Ларионовым.