Современная электроника №6/2020

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 67 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 6 2020 Версия 15 программного обеспече- ния AWR поддерживает этот метод с предоставлением модуля кода огиба- ющей усиления контура и блока урав- нений, которые могут быть легко при- менены к новым проектам усилителей. Поддержка анализа устойчивости методом огибающей контура даёт раз- работчикам следующие преимущества: ● оценку устойчивости и запас по устойчивости каждого устройства в усилителе; ● входные и выходные согласования применяются аналитически, что уве- личивает скорость анализа; ● требуется меньше комбинаций оцен- ки фазы, что увеличивает скорость анализа; ● в связи с повышением скорости ста- новится возможной оптимизация за- паса по фазе для каждого устройства в усилителе. Синтез ускоряет разработку СВЧ Характеристический импеданс и элек- трическая длина (задержка) линий пере- дачи представляют собой два важных конструктивных параметра, использу- емых для управления частотно-зависи- мой характеристикой цепи пассивных РЧ-/СВЧ-цепей, таких как четвертьвол- новые трансформаторы, делители/сум- маторымощности Уилкинсона, гибрид- ные ответвители, фильтры и др. Используя среду проектирования AWR v15, разработчики могут напря- мую синтезировать физические атри- буты (ширину, длину) этих микрополо- сковых, полосковых или копланарных волноводных структур для данной под- ложки на основе требуемых электриче- ских характеристик. Аналогичным образом электриче- ские характеристики могут быть рас- считаны непосредственно из физи- ческих свойств одиночной или подсоединённой линии передачи, раз- мещённой на схеме (см. рис. 5). Синтез параметров модели схемы обеспечива- ет важные данные для формирования точного расположения этих линий передачи без необходимости запуска калькулятора линии передачи и без нужды вручную передавать результа- ты расчёта в диалоговое окно свойств линии передачи. Дальнейшее расширение синтеза в качестве мощного средства проектиро- вания – «расширенный мастер синте- за цепей» – ускоряет разработку цепей согласования импеданса для сложных широкополосных и многоканальных усилителей и межкаскадных схем согласования, позволяя пользовате- лям синтезировать схемы оптимально- го согласования напрямую, используя компоненты из библиотеки поставщи- ков компонентов для поверхностного монтажа, встроенной в AWR Microwave Office. Эта функция также поддержи- вает модели из библиотек техпроцес- сов (PDK), тем самым расширяя воз- можности синтеза согласующих цепей на схемы усилителей на основе моно- литных микроволновых интегральных схем (MMIC) и на другие конструкции на основе MMIC. ЭМ-моделирование и антенны В целях повышения скорости и объ- ёма ЭМ-анализа интегральных схем (ИС), корпусов и печатных плат, тех- нология построения сетки и решателя AWR AXIEM претерпела несколько клю- чевых улучшений. Это привело к повы- шению качества разбиения сетки для обеспечения более быстрого времени моделирования и увеличения доступ- ного объёма расчётов благодаря сокра- щённой сетке (см. рис. 6). AWR Design Environment v15 теперь может автоматически обнаруживать и удалять проблемные элементы сетки с помощью алгоритма надёжной коррек- тировки граней с большим соотноше- нием сторон (HARF). Программное обе- спечение поддерживает разрешение металлов и диэлектриков в субнаноме- тровом масштабе (нм) по оси Z (предва- рительно округляя до ближайшего нм), чтобы обеспечить более быстрое моде- лирование многослойных ИС-структур с субнанометровыми слоями (к приме- ру, МДМ-конденсаторов). Как большие печатные платы, так и кремниевые компоненты на кристал- ле могут содержать производствен- ные элементы, которые не влияют на функциональность ВЧ, но могут замед- лить ЭМ-анализ, увеличивая общий объём расчётной задачи. В AWR Design Environment v15 правила предвари- тельной обработки формы объекта были расширены таким образом, чтобы лучше соответствовать особенностям процессов производства кремниевых ИС (т.е. обрабатывать большее коли- чество металлических слоёв) и объе- Рис. 5. Синтез электрических/физических параметров линий передачи доступен непосредственно на компоненте схемы Рис. 6. Усовершенствованные сетка и алгоритмы расчёта позволяют быстрее моделировать большие задачи