Современная электроника №6/2020

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 65 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 6 2020 Основные нововведения AWR Design Environment v15 Интерфейс / автоматизация Схемный анализ ЭМ-анализ Системный анализ Топология Построение контуров load-pull на прямо- угольных графиках. Измерения при помо- щи шаблонов цепей. Добавление целей оптимизации прямо на график. Редактирование осей прямо на графике. Цветовая кодировка маркеров. Группировка уравнений. Ускоренный анализ устойчивости. Низкочастотный load-pull анализ с двухтоновым возбуждением. Интеграция калькуля- тора линий передачи. Синтез цепей со- гласования с компо- нентами библиотек поставщиков. Ускоренная и более точная адаптивная сетка. AXIEM DC для рас- чёта на постоянном токе. Измерения пиковых характеристик антенн. Предустановленные тестовые схемы 5G NR. Поддержка шин MIMO для ФАР. Блок алгоритмов линеаризации усилителей (DPD). Трассировка iNets в реальном времени с учётом DRC. Поддержка мульти- размерных проектов. Режим ввода «2 клика». Изменение размеров объектов в окне их параметров. Импорт топологии плат на основе Gerber-файлов для ЭМ-анализа. С учётом увеличивающихся размера и сложности электронных систем РЧ (радиочастотных) и смешанных сиг- налов, новая, более быстрая прокладка цепей и возможность трёхмерной визу- ализации в AWR v15 позволяют поль- зователям мгновенно увеличивать и уменьшать масштаб или вращать боль- шие конструкции, чтобы осматривать физический проект под любым углом без какого-либо запаздывания. Печат- ные платы большого размера, импорти- рованные в виде файлов IPC-2581 или ODB++ из САПР Cadence Allegro ® PCB Designer или других САПР печатных плат, можно легко проверить визуаль- но перед редактированием и подготов- кой к ЭМ-анализу с помощью мастера редактирования печатных плат. Кроме того, версия v15 программного обеспечения AWR расширяет поддерж- ку интеграции РЧ-/СВЧ-компонентов в мультитехнологические системы. Файл определения процесса слоя (LPF) в AWR Microwave Office определяет уровни обработки и параметры для проекти- рования физического макета. Для ана- лиза неоднородных подложек и много- кристальных модулей, использующих различные полупроводниковые про- цессы и ламинаты, ПО AWR Design Environment поддерживает несколь- ко определений процессов в рамках одного иерархического проекта. Соб- ственные блоки LPF с описанием пара- метров каждого техпроцесса позволяют различным процессам самостоятельно определять единицы измерения, наибо- лее подходящие для данной технологии (например, мил или микрон). Моделирование и проектирование усилителей мощности Чтобы удовлетворить требования к полосе пропускания, системы 5G объ- единяют непрерывный и прерыви- стый спектры на частотах ниже 6 ГГц и используют преимущества доступ- ной полосы пропускания на частотах миллиметровых волн. Это усложняет задачу разработчиков ВЧ-усилителей, Системный анализ Схемный анализ ЭМ-анализ Рис. 1. Платформа AWR Design Environment: 1.1, 1.2) тестовые схемы, поэлементный анализ тракта, анализ спуров, 1.3) линейный/ нелинейный анализ и оптимизация, 1.4, 1.5) экс- тракция S-параметров и визуализация полей Рис. 2. Улучшенное отображение данных с новыми типами графиков и управлением 1.1 1.4 1.2 1.5 1.3