СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА №2/2016
ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ 33 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 2 2016 Воспроизведение напряжения Измерение напряжения Измерение тока –10 …+ 10 В ± (0,002 × U + 2 мВ) –10 …+ 10 В ± (0,002 × U + 2 мВ) –10 …+ 10 мА ± (0,01 × I + 1 мкА) –10 …+ 10 В ± (0,002 × U + 2 мВ) –10 …+ 10 В ± (0,002 × U + 2 мВ) –10 …+ 10 мА ± (0,01 × I + 1 мкА) 0,5 … 1200 МГц ± 0,5% дифференциальный LVPECL 0,5 … 1200 МГц ± 0,5% дифференциальный LVPECL Воспроизведение напряжения Измерение напряжения Измерение тока Диапазон тактовых частот Тип выходного сигнала Диапазон тактовых частот Тип выходного сигнала Разрядность задания переменной составляющей Частота преобразования Частота формируемого выходного сигнала Фильтры НЧ Баттерворта 11-го порядка с частотами среза: Тип выходного сигнала: Разрядность задания переменной составляющей Частота преобразования Частота формируемого выходного сигнала Разрядность задания постоянной составляющей Фильтры НЧ Баттерворта 5-го порядка с частотами среза: Тип выходного сигнала: 16 1 … 1200 Мпс 2,4 … 260 МГц 25; 117; 280 МГц дифференциальный, со связью по переменному току Single Ended, со связью по переменному току 16 0,1 … 1200 Мпс 0 … 55 МГц 20 16,5; 58 МГц дифференциальный с постоянной составляющей PRS1 PRS2 RFG 1 2 AWGH AWGL ARP Рис. 4. Функциональные устройства блока ARP питания применены отдельные мало- шумящие экранированные линейные источники питания. И СПЫТАНИЯ СБИС НА ВНЕШНИЕ ВОЗДЕЙСТВУЮЩИЕ ФАКТОРЫ Конструкция, аппаратное и про- граммное обеспечение Тестера соз- дают хорошие условия для испыта- ний микросхем, в том числе для испы- таний, совмещённых с измерениями, например, с использованием установок «Термострим» и проходных камер. Обе- спечены измерения под воздействием температур непосредственно на пла- те прижимного устройства без приме- нения кабелей и потери качества сиг- налов. Одной из приоритетных задач при проектировании конструкции Тестера являлась разработка способов переда- чи сигналов Тестера на испытуемую СБИС и обратно с минимальными потерями и искажениями сигналов. Специально для многоканального Тестера FORMULA ® HF Ultra разрабо- тана оригинальная система контак- тирования нового поколения, пред- назначенная для измерений как в нор- мальных условиях, так и в диапазоне температур –60…+125 ° С. Обеспече- ны надёжность, удобство и быстрота установки, фиксации и смены изме- рительной оснастки, которые дости- гаются благодаря применению пре- цизионного прижимного устройства (см. рис. 5), специальных рамок для крупногабаритной оснастки и «веч- ных» контактов (POGO-PIN), гаран- тирующих не менее миллиона при- соединений оснастки. Тестер оснащён средствами для инте- грации с внешним оборудованием оте- чественного и иностранного производ- ства, в том числе с зондовыми установ- ками, испытательным оборудованием, внешними приборами. Манипулятор поворота измерительного блока имеет электропривод с электронным управ- лением, обеспечивая отличную эргоно- мику рабочего места во всех режимах его эксплуатации. П РОГРАММНЫЙ КОМПЛЕКС Т ЕСТЕРА Программный комплекс Тесте- ра – это русскоязычная среда FormHF c единым графическим интерфейсом (GUI), предназначенная для реализа- ции всех этапов измерительного про- цесса: от разработки и отладки про- грамм контроля до выполнения изме- рений, документирования результатов и их последующего анализа. Сре- да FormHF обеспечивает выполне- ние и прослеживаемость совокупно- сти этих процессов путём формиро- вания записей, разграничения прав доступа персонала к оборудованию и базам данных. На рисунке 6 представлены «5 шагов»: от разработки и отладки программ кон- троля до выполнения измерений, доку- ментирования результатов и их после- дующего анализа в среде программно- го обеспечения Тестера. По существу, программный комплекс FormHF является системой автомати- зации трудоёмкого процесса разра- ботки и отладки измерительных про- грамм (программ контроля) и адапти- рован к применению техническими специалистами широкого профиля без использования языков програм- мирования. Поддерживаются все типо- вые методы контроля, а также средства трансляции тестов из стандартных форматов VCD, WGL, SVF и Intel HEX. Для анализа функциональных и пара- метрических отклонений, выявлен- ных при измерениях и при отлад- ке программ контроля, применяются встроенные средства: многоканаль- ный аппаратный «Логический анали- затор», «Осциллограф», «Карта оши- Рис. 5. Прецизионное прижимное устройство измерительного блока
RkJQdWJsaXNoZXIy MTQ4NjUy