СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА №3/2014

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 72 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 3 2014 Новости мира News of the World Новости мира IBM превратит чипы в кремниевую пыль Концепция самоликвидации чипов (напри- мер, в назначенный срок или радиокоман- дой) по понятным причинам становится востребованной в современных сражени- ях. В разработку военной микроэлектрони- ки вкладываются значительные ресурсы, и крайне нежелательно, чтобы «умная» аппа- ратура досталась инженерам противника. Военное агентство передовых исследо- ваний США (DARPA) выделило $8,1 млн на соответствующий проект Vanishing Programmable Resources, который защи- тит хайтековские наработки от реверс- инжиниринга: ● IBM изобретает схему разрушения полу- проводникового чипа через механиче- ское воздействие стеклянной прослойки; ● Xerox придумывает «напряжённые» кон- струкции, уничтожающиеся по электриче- скому сигналу; ● Honeywell трудится над материалами для чипов, которые будут разлагаться через заданное время естественным путём. www.pcweek.ru Анализатор цепей серии ENA, оптимизированный для тестирования ВЧ-компонентов Компания Agilent Technologies Inc. пред- ставила новый недорогой анализатор цепей E5063A серии ENA, предназначенный для проведения испытаний в процессе произ- водства. Анализатор E5063A обеспечивает опти- мальное сочетание характеристик и функци- ональных возможностей для тестирования простых пассивных ВЧ-компонентов, таких как антенны сотовых телефонов и базовых станций сотовой связи, ВЧ-кабели и филь- тры. Кроме того, он может использовать- ся в процессе исследований и разработок для определения параметров пассивных ВЧ-устройств и диэлектриков. Анализатор E5063A обеспечивает наилуч- шее соотношение цены и производительно- сти. Он имеет отличные ВЧ-характеристики, включая низкий уровень зашумлённости графика (0,002 дБ среднеквадратичного значения) и высокую температурную ста- бильность (0,005 дБ/°C), что помогает сокра- тить затраты на тестирование без ущерба качеству продукции. Использование анализатора E5063A совместно с коаксиальным коммутатором с шиной USB U1810B даёт возможность соз- дать экономичное испытательное решение для тестирования нескольких устройств одновременно, которое позволяет с помо- щью одного прибора измерять характеристи- ки сразу четырёх антенн, что также способ- ствует снижению расходов на испытания. Благодаря широким возможностям по калибровке и анализу данных, включая функцию моделирования влияния тесто- вой оснастки, анализатор E5063A обеспе- чивает высокую производительность изме- рений, сопоставимую со ставшим отрасле- вым стандартом анализатором цепей Agilent E5071C серии ENA. В сочетании с комплектом диэлектриче- ского пробника 85070E анализатор E5063A представляет собой недорогое решение для определения характеристик диэлектриков, что идеально подходит для лабораторий по исследованию новых материалов с ограни- ченным бюджетом. Дополнительную информацию об анализаторе цепей Agilent E5063A серии ENA можно найти на странице www.agilent.com/find/e5063a. www.agilent.ru «Микрон» – серийное производство ИМС по 65-нм технологии уже в 2014 году ОАО «НИИМЭ и Микрон», один из круп- нейших производителей и экспортёров микросхем и RFID-продукции в Восточной Европе и СНГ, входящий в отраслевой хол- динг ОАО «РТИ», завершил разработку соб- ственной технологии создания интеграль- ных схем по топологии 65 нм и планирует в 2014 году начать их серийное производ- ство на своём заводе в Зеленограде. Разработка 65-нм технологии, заняв- шая около двух лет, успешно завершилась в декабре 2013 года: были получены первые работающие тестовые кристаллы. Исследо- вания показали, что транзисторы в новых кристаллах работают в 1,5 раза быстрее, чем выполненные по уже освоенной в про- изводстве 90-нм технологии, при одновре- менном снижении потребляемой энергии более чем в 2 раза. В технологическом процессе использо- валась ультрафиолетовая фотолитография с длиной волны излучений 193 нм, которая применяется для серийного производства 90-нм чипов. Для получения транзисторов по топологии 65 нм специалистами «Микро- на» были разработаны специальные алго- ритмы внесения оптической коррекции фотолитографии, проведена оптимизация плазмохимических процессов, химико-меха- нической обработки, ионной имплантации, операций термического окисления, а так- же разработаны модели работы транзи- сторов и других элементов. После завер- шения разработки правил проектирова- ния (PDK) и описания экспериментальных моделей работы всех элементов, предна- значенных для оптимизации процесса про- ектирования, они будут переданы россий- ским дизайн-центрам. Процесс производства по технологии 65-нм совместим с основной инфраструк- турой и оборудованием существующей линии по производству интегральных схем на пластинах диаметром 200 мм. Завершив в апреле 2014 года установку дополнитель- ного технологического и контрольно-изме- рительного оборудования и проведя серти- фикацию 65-нм процесса, «Микрон» смо- жет приступить к серийному производству микросхем по принципиально новым для России технологиям. «В рамках нашей технологии разработ- чикам будут доступны три типа транзисто- ров ядра с различным соотношением про- изводительности и энергопотребления, что даст им широкие возможности и гибкость в проектировании интегральных схем, – отметил заместитель генерального дирек- тора ОАО «НИИМЭ и Микрон» по научной работе Николай Шелепин. – С открыти- ем серийного производства на «Микро- не» наши дизайн-центры, разрабатываю- щие элементную базу по топологии 65 нм, смогут перенести её производство из стран ЮВА на территорию России». Первое изделие по 65-нм технологии пла- нируется запустить в производство уже в апреле 2014 года. Это будет универсаль- ная память ОЗУ ёмкостью 16 Мб (100 млн транзисторов), используемая в различных вычислительных системах. В дальнейшем планируется освоить в серийном производ- стве другие логические и аналогово-циф- ровые полупроводниковые приборы, в том числе с встроенной памятью: процессоры и микропроцессоры, ЦАП/АЦП, программи- руемая матричная логика и др. www.mikron.ru © СТА-ПРЕСС