СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА №5/2015

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 75 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ◆ № 5 2015 Новости мира News of the World Новости мира WaferSync – совместно разработанный двунаправленный канал связи. Этот канал позволяет полностью синхронизировать карту полупроводниковой пластины и обе- спечивает безошибочный обмен инфор- мацией между компонентами программы, включая информацию о выравнивании пла- стины, участках и кристаллах. Новый канал связи между WaferPro Express и Velox 2.0, в сочетании с другими усовершенствованиями, позволяет инже- нерам быстро настраивать измеритель- ные системы. Для дальнейшего повыше- ния эффективности измерений на высо- ких частотах WaferPro Express периодически контролирует стабильность ВЧ калибровки. Это минимизирует время, затрачиваемое на сбор данных о погрешностях. «Своим появлением ПО WaferPro Express 2015 во многом обязано нашему сотрудничеству с Cascade Microtech, что является важной вехой нашей программы по предоставлению измерительных реше- ний уровня полупроводниковых пластин для наших заказчиков, – указал менед- жер по маркетингу Keysight EEsof EDA Чарльз Плотт (Charles Plott). – Програм- ма измерительных решений уровня полу- проводниковых пластин предлагает заказ- чикам гарантированное конфигурирова- ние, настройку и поддержку системы. ПО WaferPro Express является сердцем этой программы, объединяя все системные ком- поненты и предоставляя заказчикам гиб- кость, необходимую для быстрого запу- ска измерений». Типовое измерительное решение уров- ня полупроводниковых пластин (WMS) для измерений на высоких частотах и на постоянном токе включает анализатор цепей Keysight PNA или PNA-X и анали- затор параметров полупроводниковых устройств B1500A, объединённый с зондо- вой станцией компании Cascade Microtech, ПО калибровки WinCal XE и подложками с эталонным импедансом для калибровки. Конфигурации WMS заранее проверены и оптимизированы для точного и воспро- изводимого измерения устройств и компо- нентов. Проверка вновь устанавливаемых систем выполняется с помощью новой испытательной подложки Keysight (KVS). Для каждой KVS в заводских условиях полностью измеряются все параметры, а в комплект их поставки входят стандарт- ные устройства, которые можно зондиро- вать с помощью пробников G-S-G после ВЧ-калибровки. WaferPro Express 2015 измеряет KVS во время начальной провер- ки системы, а после сравнения измерен- ных и заводских данных происходит под- тверждение корректной работы системы. Другие новые возможности WaferPro Express 2015 включают поддержку изме- рений коэффициента шума и возможность импорта испытательных процедур, разрабо- танных в ПО моделирования и измерений Keysight IC-CAP. Новая функция измерения коэффициента шума дополняет имеющи- еся функции измерения компрессии уси- ления, двухтонального измерения интер- модуляционных искажений и измерения S-параметров, поддерживаемые в настоя- щее время последним инструментальным драйвером Keysight PNA-X. www.keysight.com